Curso Formación de metrólogos

Importancia de la metrología

Objetivo de la metrología

Alcance de la metrología

Aplicación de la metrología

Conciencia metrológica

Acreditación

Ajuste de un sistema de medida

Calibración

CENAM

Clase de exactitud

EMA

Error de medida

Exactitud

Incertidumbre de medida

Norma Oficial Mexicana

Norma Mexicana

Patrón de medida

Precisión

Repetibilidad

Reproducibilidad

Trazabilidad metrológica

Verificación

Ley de Infraestructura de la Calidad LIC

Reglamento de la Ley de Infraestructura de la Calidad LIC

NOM-008-SCFI-vigente

NMX-Z-055-IMNC-vigente

SO/IEC 17025:2017

MP-FE005 Criterios de aplicación de la norma MNX-EC-17025-IMN

MP-CA002 Política Ensayos de Aptitud, EMA

MP-CA005 Política Incertidumbre de mediciones, EMA

MP-CA006 Política Trazabilidad de las mediciones, EMA

Características metrológicas

Manipulación

Almacenamiento

Calibración y verificación de los instrumentos

Métodos de calibración y verificación

Normas aplicables a la magnitud

Programas de control de los instrumentos

Confirmación metrológica

Capacitación del personal

Tipos de patrones

Características metrológicas de los patrones

Selección de patrones

Manipulación de los patrones

Almacenamiento

Programas de control

Trazabilidad metrológica

Contenido de un certificado de calibración

Interpretación de los resultados

Uso del certificado

Validez del certificado

Norma NMX-CH-140-IMNC vigente

Error de medida

Identificación de variables de influencia

Evaluación tipo A de la incertidumbre

Evaluación tipo B de la incertidumbre

Incertidumbre combinada U

Incertidumbre expandida U

Capacidad de medición y calibración

Trazabilidad metrológica

Cartas de trazabilidad

Revisión de cartas de trazabilidad

Conclusiones